BYK-Gardner最新研發的 wave-scan ，可適用於高/中光澤表面的外觀平坦性量測。以高能量的紅外光LED光源掃描高/中光澤銬漆表面，可在每一個噴塗製程後量測到 LW / SW / DOI 數值，是一台完美的表面平坦性測量儀。其所測得的高光澤表面數據和 wave-scan DOI有很好的關聯性，可以做完全的比對。

設定操作條件及數據的儲存比對管理則為業界已相當熟悉的 smart-chart software 來處理。

規格:

• 測量範圍：DOI/LW/SW 0~100
• 掃描測量長度：50 / 100 / 200mm掃描解析度：375個量測點/每公分
• 光源：紅外光雷射二極體Laser Diode，LED
• CCD感應器：640 x 480畫素